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掃描(miao)離子電導顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)SICM屬于掃描(miao)探針顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing),它是(shi)一(yi)種具有納米級分辨(bian)率的(de)顯(xian)(xian)微(wei)技術(shu)。區別于其他掃描(miao)探針顯(xian)(xian)微(wei)技術(shu), SICM能夠在(zai)樣品表(biao)面(mian)非接(jie)觸(chu)的(de)條件下獲取(qu)樣品表(biao)面(mian)形貌(mao)特性(xing)信息,并且SICM對樣品本身沒有要求,也不需(xu)做任何預處理。