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掃描(miao)離子(zi)電導顯微(wei)(wei)鏡SICM屬于(yu)掃描(miao)探針(zhen)顯微(wei)(wei)鏡,它是(shi)一種(zhong)具(ju)有納(na)米級分辨率的顯微(wei)(wei)技(ji)術(shu)。區別于(yu)其他掃描(miao)探針(zhen)顯微(wei)(wei)技(ji)術(shu), SICM能夠(gou)在樣(yang)(yang)品表面非接觸的條件下(xia)獲取樣(yang)(yang)品表面形貌特性信息,并且SICM對樣(yang)(yang)品本身沒有要求,也不需做任(ren)何預處(chu)理。