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鋰(li)(li)(li)離(li)(li)子軟包/動力電(dian)(dian)(dian)池(chi)EIS測試方案(an) 鋰(li)(li)(li)離(li)(li)子單電(dian)(dian)(dian)池(chi)是鋰(li)(li)(li)離(li)(li)子電(dian)(dian)(dian)池(chi)的(de)一(yi)種，通常(chang)是指(zhi)一(yi)個(ge)(ge)單獨的(de)鋰(li)(li)(li)離(li)(li)子電(dian)(dian)(dian)池(chi)單元(yuan)，而不是由多個(ge)(ge)電(dian)(dian)(dian)池(chi)單元(yuan)組成的(de)電(dian)(dian)(dian)池(chi)組。 　　鋰(li)(li)(li)離(li)(li)子單電(dian)(dian)(dian)池(chi)的(de)工作原理與(yu)鋰(li)(li)(li)離(li)(li)子電(dian)(dian)(dian)池(chi)相(xiang)同，主要依靠(kao)鋰(li)(li)(li)離(li)(li)子在(zai)正(zheng)極和負極之間移動來工作。在(zai)充放電(dian)(dian)(dian)過程中，Li+在(zai)兩個(ge)(ge)電(dian)(dian)(dian)極之間往返嵌(qian)入(ru)和脫嵌(qian)：充電(dian)(dian)(dian)時，Li+從(cong)正(zheng)極脫嵌(qian)，經過電(dian)(dian)(dian)解質嵌(qian)入(ru)負極，負極處于富鋰(li)(li)(li)狀(zhuang)態；放電(dian)(dian)(dian)時則(ze)相(xiang)反。

鋰(li)離子動(dong)力電(dian)池組交流(liu)阻抗(kang)EIS測(ce)試(shi)的產品(pin)概(gai)述(shu) IPS愛譜斯(si)提供(gong)全系(xi)列的便(bian)攜(xie)式鋰(li)離子電(dian)池測(ce)試(shi)設備(bei)和鋰(li)電(dian)池生產線在(zai)線質檢設備(bei)。我(wo)們的測(ce)量(liang)儀(yi)器為(wei)電(dian)動(dong)工(gong)具、備(bei)用存儲(chu)、工(gong)業用途、UPS 中的電(dian)池驗證提供(gong)可靠性(xing) - 獨(du)立于技術。 從鋰(li)離子單電(dian)池到(dao)電(dian)池組再到(dao)電(dian)池系(xi)統的電(dian)化學測(ce)試(shi)方案

產品(pin)概(gai)述圓柱形電(dian)池測(ce)試適(shi)配器 CTA可以(yi)連(lian)接(jie)所有(you)IPS愛譜斯電(dian)池測(ce)量(liang)設備： CTA以(yi)四線技術接(jie)觸電(dian)池，以(yi)精(jing)確(que)測(ce)量(liang)阻抗和容量(liang)，電(dian)流高達5A； 18650、21700和26650電(dian)池都可以(yi)直接(jie)插入，其他(ta)類型可以(yi)定制； 　　CTA通過(guo)測(ce)量(liang)電(dian)纜MK-L連(lian)接(jie)到測(ce)量(liang)單(dan)元(yuan)，也可以(yi)與其他(ta)儀器一起使用(yong)；

鋰離(li)子電(dian)(dian)池(chi)(chi)單(dan)電(dian)(dian)池(chi)(chi)和模組(zu)產(chan)品下線(xian)質(zhi)量(liang)檢(jian)測(ce)儀(yi)的(de)產(chan)品概述： Application Cell Inspection單(dan)元(yuan)檢(jian)測(ce) 大量(liang)電(dian)(dian)池(chi)(chi)的(de)進(jin)貨需要(yao)較短的(de)循(xun)環(huan)時間檢(jian)驗(yan)質(zhi)量(liang)： IPS愛譜(pu)斯緊湊型電(dian)(dian)池(chi)(chi)檢(jian)測(ce)儀(yi)可以(yi)遠(yuan)程控(kong)制(zhi)并(bing)輕松集成到(dao)電(dian)(dian)池(chi)(chi)生產(chan)線(xian)中，在(zai)短短1秒(miao)內測(ce)量(liang)：

MBT鋰(li)離子電(dian)池(chi)生產(chan)線(xian)質量檢(jian)測(ce)儀的產(chan)品(pin)概述(shu)MBT-x 是用(yong)于電(dian)池(chi)生產(chan)和質量保證的測(ce)量模塊： MBT-x可(ke)以對電(dian)池(chi)單元(yuan)和電(dian)池(chi)組進性快(kuai)速測(ce)試，還可(ke)以在電(dian)池(chi)下線(xian)EoL中檢(jian)查焊接(jie)接(jie)頭的質量； MBT-x在0.4秒內(nei)測(ce)量3個關鍵電(dian)池(chi)參數（交(jiao)流內(nei)阻(zu)、直流內(nei)阻(zu)和電(dian)池(chi)電(dian)壓）； 附加(jia)模式允許自(zi)動溫(wen)度補償(chang)；

800V 鋰電(dian)池系(xi)(xi)統(tong)阻抗(kang)和電(dian)壓(ya) 測(ce)試儀(yi)(yi)BIM-HV BIM-HV 是測(ce)量高達 800V 鋰電(dian)電(dian)池系(xi)(xi)統(tong)阻抗(kang)和電(dian)壓(ya)的儀(yi)(yi)器： BIM-HV 結(jie)合了電(dian)池測(ce)試儀(yi)(yi)和電(dian)池分析儀(yi)(yi)的功能，可以(yi)(yi)獨立(li)于技(ji)術(shu)對電(dian)池進行快(kuai)速測(ce)試； BIM-HV 測(ce)量 1Hz 和 1kHz 之間的EIS，加(jia)上電(dian)池、模組和系(xi)(xi)統(tong)的電(dian)壓(ya)， 以(yi)(yi)確(que)定電(dian)池的狀態（SoH、SoC）和工作參數，并且無(wu)需復雜的放電(dian)方法即可進行容量測(ce)量