掃描離子電導顯微鏡SICM

簡(jian)要描述：掃(sao)描離子電導顯微(wei)(wei)鏡SICM屬于掃(sao)描探針(zhen)顯微(wei)(wei)鏡，它是一(yi)種具有納米級分(fen)辨(bian)率(lv)的顯微(wei)(wei)技術。區(qu)別于其他掃(sao)描探針(zhen)顯微(wei)(wei)技術， SICM能夠在樣品(pin)(pin)表面非接觸(chu)的條件(jian)下(xia)獲取樣品(pin)(pin)表面形貌特性(xing)信息，并且SICM對樣品(pin)(pin)本身沒有要求,也(ye)不需做任何預處理。

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廠商性質：生產廠家
更新時間(jian)：2024-05-21
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掃描離子電導顯微鏡SICM屬于掃描探針顯微鏡，它是一種具有納米級分辨率的顯微技術。區別于其他掃描探針顯微技術， SICM能夠在樣品表面非接觸的條件下獲取樣品表面形貌特性信息，并且SICM對樣品本身沒有要求,也不需做任何預處理。

掃描離子電導顯微鏡SICM（Scanning Ion Conductance Microscopy， SICM）
1、探針是一根中空的超微玻璃管，針尖為錐形，針尖內徑約幾十到幾百納米；
2、在探針內外均灌有電解質溶液，并各放置一根電極,在電極的兩端通上電壓就會在溶液中產生離子電流；
3、當針尖與樣品距離較遠時，電流值的大小保持恒定，而當探針與樣品的距離減小到約為探針內徑時，狹小的針尖/樣品空間就會限制離子通過，離子電流急速減小；
4、根據探針/樣品間距離與離子電流的關系，一個設定的電流值就代表了探針與樣品間一個固定的距離，讓探針在樣品表面以一定的路線移動掃描，控制器控制電流保持恒定以保證針尖與樣品始終保持同樣的距離，掃描完成后記錄下探針移動的軌跡即可代表樣品的表面形貌。

在 SICM 中(zhong)，測量了微量移液(ye)(ye)(ye)(ye)管內的(de)一(yi)個準參考(kao)對(dui)電(dian)極 (QRCE) 和(he)(he)本體(ti)溶(rong)液(ye)(ye)(ye)(ye)中(zhong)的(de)一(yi)個之間(jian)的(de)離子電(dian)導(dao)電(dian)流。基材浸入電(dian)解液(ye)(ye)(ye)(ye)中(zhong)。在接(jie)近表面時，由于微量移液(ye)(ye)(ye)(ye)器開口和(he)(he)表面之間(jian)的(de)擴(kuo)散受阻，離子電(dian)導(dao)電(dian)流降低。這允許(xu)非接(jie)觸式高分辨率地(di)形成像。

SICM探針是一(yi)根中空的超微(wei)玻璃管，針尖為錐形，針尖內徑(jing)約幾十到(dao)幾百納米；
在探針(zhen)內外均灌有電(dian)解質溶(rong)液，并各放置一根電(dian)極,在電(dian)極的兩(liang)端通上電(dian)壓就會(hui)在溶(rong)液中產生離子電(dian)流

<strong>掃描離子電導顯微鏡SICM</strong>(圖1)