掃描電化學顯微鏡SECM是一套多功能的SPM掃描探針顯微鏡系統，還可以集成SICM，SECCM等多種微區功能。

掃描電化學顯微鏡SECM具(ju)備掃(sao)(sao)描(miao)電化學顯微(wei)鏡(jing)及掃(sao)(sao)描(miao)離子(zi)電導顯微(wei)鏡(jing)成(cheng)像(xiang)(xiang)（SECM/ SICM）與可定(ding)制模塊化的(de)(de)光學顯微(wei)鏡(jing)成(cheng)像(xiang)(xiang)同(tong)步聯用的(de)(de)系統(tong)，此多(duo)(duo)功(gong)能的(de)(de)儀器系統(tong)全面覆(fu)蓋細(xi)(xi)胞表面分析，細(xi)(xi)胞納米形貌(mao)成(cheng)像(xiang)(xiang)，細(xi)(xi)胞膜表面的(de)(de)離子(zi)通(tong)道(dao)的(de)(de)檢(jian)測(ce)與成(cheng)像(xiang)(xiang), 細(xi)(xi)胞納米力學領域(yu)的(de)(de)研究(jiu)與創新，細(xi)(xi)胞活(huo)性(xing)和生理功(gong)能的(de)(de)原(yuan)位(wei)電化學檢(jian)測(ce)，以及神經傳導物質的(de)(de)原(yuan)位(wei)快速檢(jian)測(ce)，并(bing)可升(sheng)級后兼容熒光比(bi)值鈣成(cheng)像(xiang)(xiang)等(deng)(deng)(deng)諸多(duo)(duo)前(qian)沿(yan)應用。提供原(yuan)位(wei)微(wei)觀形貌(mao)與電催化活(huo)性(xing)同(tong)步掃(sao)(sao)描(miao)檢(jian)測(ce)模式(shi)(shi)，例如：基礎的(de)(de)等(deng)(deng)(deng)高模式(shi)(shi)和高級的(de)(de)等(deng)(deng)(deng)間(jian)距模式(shi)(shi)下的(de)(de)矩陣(zhen)協議(yi)掃(sao)(sao)描(miao)和模板自定(ding)義掃(sao)(sao)描(miao)（3D微(wei)觀打印或局(ju)部修飾等(deng)(deng)(deng)模式(shi)(shi)），提供給(gei)用戶無限的(de)(de)實(shi)驗組合和多(duo)(duo)種分析實(shi)驗方法的(de)(de)高級拓展與聯用。

系統組件(jian)與功能描述及核(he)心參數：

1.1 機械(xie)掃描四軸納米定(ding)位系統(模塊)：

    1）X/Y/Z 三軸(zhou)(zhou)掃(sao)(sao)描探針(zhen)定位系(xi)統(tong)：閉(bi)環電(dian)路控制的(de)直(zhi)流伺(si)服XYZ馬(ma)達臺疊加Z-軸(zhou)(zhou)壓電(dian)驅動(dong)(dong)系(xi)統(tong)，XYZ馬(ma)達臺具備(bei)(bei)掃(sao)(sao)描分辨(bian)率≤10nm，馬(ma)達掃(sao)(sao)描軸(zhou)(zhou)大動(dong)(dong)態掃(sao)(sao)描范圍不小于X=100mm, Y=75mm, Z=50mm；Z-軸(zhou)(zhou)配(pei)備(bei)(bei)的(de)納米(mi)分辨(bian)率壓電(dian)驅動(dong)(dong)系(xi)統(tong)具備(bei)(bei)步進(jin)分辨(bian)率≤1.5納米(mi)。掃(sao)(sao)描系(xi)統(tong)具備(bei)(bei)探針(zhen)與樣品(pin)共掃(sao)(sao)描模式，Z-軸(zhou)(zhou)可快速(su)完(wan)成長(chang)距離下(xia)的(de)全自(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)逼近過程。

    2）系統(tong)具備X/Y/Z/F 四(si)維亞微米便攜式獨立遙控桿，具有(you)慢速和長(chang)距(ju)離/快速雙模式。

    3） XY掃(sao)描(miao)軸(zhou)可擴展(zhan)移動定(ding)位(wei)范圍(wei)，具備手動調節(jie)旋鈕可額外擴展(zhan) X/Y定(ding)位(wei)范圍(wei)至不(bu)少(shao)于±12.5 mm。

1.2 系統無(wu)縫集成(cheng)的微(wei)觀光學顯微(wei)鏡成(cheng)像系統（模塊）：

    1）核心光學(xue)組件倒置(zhi)集成(cheng)于XY樣品臺的(de)正(zheng)下(xia)方(fang)，光學(xue)成(cheng)像(xiang)對(dui)焦(jiao)(jiao)由電動(dong)(dong)馬達自動(dong)(dong)聚焦(jiao)(jiao)驅動(dong)(dong)器（分辨率≤5.5nm，對(dui)焦(jiao)(jiao)移動(dong)(dong)范圍≥5厘米(mi)），光學(xue)對(dui)焦(jiao)(jiao)位置(zhi)可進行數字式調節和記錄。

    2）光(guang)(guang)(guang)學成(cheng)像(xiang)光(guang)(guang)(guang)路(lu)具備模塊化顯微(wei)鏡光(guang)(guang)(guang)路(lu)設(she)計，核心組件具備臨界照明(ming)的落(luo)射(she)熒光(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)學元件，光(guang)(guang)(guang)導耦(ou)合器(qi)，及用(yong)戶可自由(you)調節的濾光(guang)(guang)(guang)片立方體和用(yong)于(yu)連接(jie)像(xiang)機的C型接(jie)口適配器(qi)。

    3）倒置顯微鏡(jing)須配備6孔位物鏡(jing)盤，系統配置的物鏡(jing)須具有(you)長工作距離的熒光級物鏡(jing)，放大倍數至少為4x, 20x和(he) 40x.

   ; 4）被觀測樣(yang)品的光學照(zhao)片及視(shi)頻可由系統相機進行實(shi)時采集，激發控制模式(shi)支持預設、內部同步(bu)、曝光激發、連(lian)續曝光模式(shi)。

    5）光(guang)學系統(tong)兼容升級接入無縫集成的LED熒(ying)光(guang)激(ji)發光(guang)源系統(tong)，熒(ying)光(guang)濾(lv)波片組及超高(gao)速熒(ying)光(guang)CCD相機。

1.3. 多功(gong)能雙(shuang)通道電(dian)化學數據采集系統(tong)（模塊）：

雙(shuang)恒電位(wei)儀工(gong)作站核心硬件參數：

1）槽(cao)壓(ya)：± 12V；

2）電流可用量程：±5 pA 至(zhi) ±100mA

3）大電流: ±100 mA

4）*電流分辨(bian)率: ≤0.15fA 在 5pA 量程 ；

5）*電(dian)流噪(zao)音(yin)：RMS實測值≤ 3.5 fA （15Hz）; ≤ 31 fA（1kHz）; ≤ 120 fA（5kHz）， (測于5pA-10pA量程) ；

6）電位分辨(bian)率(lv)≤610 nV ；

7）內置數模轉換器16-bit / 脈沖(chong)≤ 5 us (雙(shuang)通道)；

8）支持四電(dian)極連接(jie)模式，具有浮地(di)接(jie)線模式。