當前位置:首頁 > 產品中心 > 電化學設備 > 電化學原子力顯微鏡EC-AFM > 電化學原子力顯微鏡EC-AFM-掃(sao)描
詳細介紹
給我們留言
多(duo)功能原子(zi)力顯微鏡平(ping)臺,滿足(zu)納米級測(ce)量的需求
原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電,磁,熱和機器性能測量的能力。
納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡(SICM).
倒(dao)置光學顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和(he)熒光顯微鏡一(yi)體化(hua)。
電化學測(ce)試的搭配平臺
電池,燃料電池,傳感(gan)器和腐蝕等電化(hua)學研究是(shi)個快速增長(chang)的領域,然(ran)后許(xu)多原子(zi)力(li)顯(xian)微鏡平臺不能(neng)直接滿足其特殊的需求(qiu)。Park NX12的人(ren)性化(hua)設計,為快速操作提供便(bian)利,從而達到化(hua)學研究人(ren)員要(yao)求(qiu)的功能(neng)性和靈活(huo)性。這主要(yao)包括:
多功能易用電化學池
惰性氣體和濕度的環境控制選項
雙恒電位儀的兼容性
研究人員(yuan)可利用Park NX12平臺實(shi)現各(ge)種電化學(xue)應(ying)用:
掃描電化學顯微鏡(SECM)
掃描電化學池顯微鏡(SECCM)
電化(hua)學原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)(EC-AFM)和(he)電化(hua)學掃描隧道(dao)顯微(wei)鏡(jing)( EC-STM)
產品分類
Product相關文章
Articles