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高阻抗（T歐級）涂層測試儀 PGU IMP Micro是為德國弗勞恩霍夫陶瓷技術和系統研究所（Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme，IKTS）特殊設計的。在IPS愛譜斯標準阻抗恒電位儀PGU 10V-1A-IMP-S的基礎上升級成一個可靠測量高阻抗的恒電位儀PGU IMP Micro。目前為止，我們能夠可靠的測量5T Ohms的阻抗（并聯25pF的電容）。IKTS期望測量5T Ohms，為此IPS愛譜斯開發了特殊的電路設計。PGU IMP Micro沒有功率放大器，即輸入運算放大器也提供相等的輸出信號，以提高信噪比。此外，PGU IMP Micro使用兩個輸入放大器，一個用于高頻低阻抗，一個用于低頻高阻抗。
PGU IMP Micro采(cai)用24 Bits ADC，其(qi)理論電壓測量(liang)分辨率為(wei)1μV, 理論電流測量(liang)分辨率為(wei)1aA；采(cai)用26 Bits DAC，其(qi)理論施加電壓分辨率為(wei)330nV。
高阻抗（T歐級）涂層測試儀 PGU IMP Micro采用10MHz的高頻正弦波和三角波正弦波發生器，理論上達到8000kV/s的掃描速率，受PGU IMP Micro的帶寬限制，實際上約為100kV/s。PGU IMP Micro同時加配了一個USB快速測量示波器模塊，可以檢測高達20MHz的信號，每個通道的采樣率為100Ms。
?自動換檔：通過在標準模式下監控最大/最小電流值來切換電流檔位。在EIS阻抗測量中，電流檔位將隨著頻率調整和計算阻抗的變化而變化；
?偏移校正：阻抗信號的測量輸出經過有源偏移校正。因此，信號的AC交流分量被移到
零線，以最大限度地增強信噪比測量；
?極限控制：通過在EcmWin軟件中輸入閾值來控制測量過程，避免不必要的情況；
?順序測量：OCP、線性掃描、計時測試、阻抗測量或電化學噪聲等方法可以隨機組合在一起。借助智能跳轉函數，可以生成非常復雜的測量例程。實際上，任何特殊的測試方法都可以用它來創建；
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