掃描離子電導顯微鏡 SICM屬于掃描(miao)(miao)探(tan)針(zhen)顯(xian)微(wei)鏡，它是一種具有納米級分(fen)辨率(lv)的(de)(de)顯(xian)微(wei)技術。區(qu)別于其他掃描(miao)(miao)探(tan)針(zhen)顯(xian)微(wei)技術， SICM能夠在樣品表面非(fei)接(jie)觸的(de)(de)條(tiao)件下獲(huo)取樣品表面形貌特性(xing)信息(xi)，并且SICM對樣品本身沒有要求(qiu),也不(bu)需做任(ren)何預處(chu)理(li)。

掃描離子電導顯微鏡 SICM（Scanning Ion Conductance Microscopy， SICM）
1、探針是一根中空的超微玻璃管，針尖為錐形，針尖內徑約幾十到幾百納米；
2、在探針內外均灌有電解質溶液，并各放置一根電極,在電極的兩端通上電壓就會在溶液中產生離子電流；
3、當針尖與樣品距離較遠時，電流值的大小保持恒定，而當探針與樣品的距離減小到約為探針內徑時，狹小的針尖/樣品空間就會限制離子通過，離子電流急速減小；
4、根據探針(zhen)/樣(yang)(yang)品(pin)(pin)間距離(li)(li)與(yu)離(li)(li)子電流(liu)(liu)的關系，一(yi)個設定(ding)(ding)(ding)的電流(liu)(liu)值就代表了(le)探針(zhen)與(yu)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)間一(yi)個固定(ding)(ding)(ding)的距離(li)(li)，讓探針(zhen)在樣(yang)(yang)品(pin)(pin)表面以一(yi)定(ding)(ding)(ding)的路線移動掃描，控(kong)制器控(kong)制電流(liu)(liu)保(bao)持恒定(ding)(ding)(ding)以保(bao)證針(zhen)尖(jian)與(yu)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)始終保(bao)持同樣(yang)(yang)的距離(li)(li)，掃描完成后記(ji)錄下探針(zhen)移動的軌跡即可代表樣(yang)(yang)品(pin)(pin)的表面形貌(mao)。