掃描離子電導顯微鏡 SICM屬于掃(sao)描探(tan)針顯(xian)(xian)微鏡，它是(shi)一種具有(you)納米級分辨率的顯(xian)(xian)微技術。區別于其他掃(sao)描探(tan)針顯(xian)(xian)微技術， SICM能夠在樣品(pin)表(biao)(biao)面(mian)非接觸的條(tiao)件下獲取樣品(pin)表(biao)(biao)面(mian)形貌(mao)特性信息，并且SICM對樣品(pin)本(ben)身沒有(you)要(yao)求(qiu),也(ye)不需(xu)做(zuo)任何預(yu)處理。

掃描離子電導顯微鏡 SICM（Scanning Ion Conductance Microscopy， SICM）
1、探針是一根中空的超微玻璃管，針尖為錐形，針尖內徑約幾十到幾百納米；
2、在探針內外均灌有電解質溶液，并各放置一根電極,在電極的兩端通上電壓就會在溶液中產生離子電流；
3、當針尖與樣品距離較遠時，電流值的大小保持恒定，而當探針與樣品的距離減小到約為探針內徑時，狹小的針尖/樣品空間就會限制離子通過，離子電流急速減小；
4、根(gen)據(ju)探針(zhen)(zhen)/樣(yang)品(pin)(pin)(pin)間(jian)距離(li)與(yu)離(li)子電流的(de)(de)(de)(de)關系，一(yi)個設定的(de)(de)(de)(de)電流值就代表了探針(zhen)(zhen)與(yu)樣(yang)品(pin)(pin)(pin)間(jian)一(yi)個固定的(de)(de)(de)(de)距離(li)，讓探針(zhen)(zhen)在樣(yang)品(pin)(pin)(pin)表面以一(yi)定的(de)(de)(de)(de)路(lu)線移動掃(sao)描，控(kong)制(zhi)(zhi)器控(kong)制(zhi)(zhi)電流保(bao)(bao)持恒定以保(bao)(bao)證(zheng)針(zhen)(zhen)尖(jian)與(yu)樣(yang)品(pin)(pin)(pin)始終保(bao)(bao)持同樣(yang)的(de)(de)(de)(de)距離(li)，掃(sao)描完成后記錄下探針(zhen)(zhen)移動的(de)(de)(de)(de)軌(gui)跡即可代表樣(yang)品(pin)(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)表面形貌。