掃描離(li)子電導顯微鏡SICM屬于(yu)(yu)掃描探針(zhen)顯(xian)微鏡，它(ta)是一種(zhong)具有納米級(ji)分辨率(lv)的顯(xian)微技(ji)術(shu)。區別于(yu)(yu)其(qi)他(ta)掃描探針(zhen)顯(xian)微技(ji)術(shu)， SICM能夠在樣(yang)品(pin)表面(mian)非接觸的條件下獲取(qu)樣(yang)品(pin)表面(mian)形貌特性信息，并且(qie)SICM對(dui)樣(yang)品(pin)本身沒有要求,也不需(xu)做任何預處理。

掃描離子電導顯微鏡技術優勢：

1、探針是一根中空的超微玻璃管，針尖為錐形，針尖內徑約幾十到幾百納米。

2、在探針內外均灌有電解質溶液，并各放置一根電極,在電極的兩端通上電壓就會在溶液中產生離子電流。

3、當針尖與樣品距離較遠時，電流值的大小保持恒定，而當探針與樣品的距離減小到約為探針內徑時，狹小的針尖/樣品空間就會限制離子通過，離子電流急速減小。

4、根據探針/樣品間距離與離子電流的關系，一個設定的電流值就代表了探針與樣品間一個固定的距離，讓探針在樣品表面以一定的路線移動掃描，控制器控制電流保持恒定以保證針尖與樣品始終保持同樣的距離，掃描完成后記錄下探針移動的軌跡即可代表樣品的表面形貌。